芯片测试主要参数

芯片测试主要参数,第1张

电子设备的电气性能直接影响整个电气系统的安全可靠运行。为了确保设备的安全性,所有电子电气设备在制造过程中都必须通过各类测试,以确保电气环境的安全性。电气性能测试包括导体或绝缘质量的基本参数测试,如导体电阻、绝缘电阻、介质损耗角和电容的正确值。电缆的工作电压越高,对其电气性能的要求就越严格。

(1)导电线芯的DC电阻测试

标称截面的电缆电阻不应超过一定值,否则会增加电缆在使用中的线芯损耗,从而使电缆发热,不仅消耗电能,加速塑料电缆的老化,还会给电缆运行的可靠性和稳定性带来危险。现在普遍使用双臂测量电桥。

(2)绝缘电阻的测试

施加在绝缘上的DC电压u与泄漏电流I的比值称为绝缘电阻r,电缆的绝缘电阻主要用来判断电缆绝缘层的潮湿程度和绝缘质量。

集成电路芯片的电性能测试

电性能测试的主要内容:橡胶、塑料、涂料、胶粘剂、建筑材料、金属材料、电池电缆等多行业、多材料产品的电性能测试服务。表面电阻、表面电阻率、体积电阻、体积电阻率、击穿电压、介电强度、介电损耗、静电性能等测试标准。项目的:

热电材料介电常数的测试方法

压电陶瓷性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测量

微波介质基片复介电常数带状线测试方法

GB/T 1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

GB/T 2951.51-2008电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第51部分:填充膏专用试验方法滴点分油低温脆性总酸值腐蚀23℃介电常数和100℃DC电阻率

固体电介质微波复介电常数的测试方法

固体电介质微波复介电常数测试方法微扰法

固体电介质微波复介电常数测试方法-“开腔”法

SJ/T 10142-1991电介质材料微波复介电常数的测试方法同轴终端开路法

SJ/T 10143-1991固体电介质微波复介电常数的测试方法

SJ/T 11043-1996电子玻璃高频介电损耗和介电常数的测试方法

电容器用有机薄膜的介电损耗角正切和介电常数的测试方法

SJ 20512-1995微波高损耗固体材料的复介电常数和复磁导率的测试方法

SY/T 6528-2002岩石样品介电常数的测量方法

电缆纸工频击穿电压的试验方法

发射管电性能测试方法电强度测试方法

GB/T 507-2002绝缘油击穿电压的测定

绝缘胶带工频击穿强度的试验方法

SH/T 0101-1991石油蜡和油介电强度的测定

贵金属及其合金电阻系数的测试方法

金属材料电阻系数的测量方法

HG/T 3331-1978绝缘漆膜体积电阻系数和表面电阻系数的测定(原HG/T 2-59-78)

HG 3332-1978绝缘漆耐电弧性的测定

HG/T 3332-1980耐电弧涂料耐电弧性的测定

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