高中 物理 几何光学 使用薄膜干涉检测物体平面是否光滑 的干涉条纹提前或延后的原理 最好使用图解加文字

干涉法检查平整度中凹凸情况的两种判定方法：

1．基本方法

如图甲所示，两板之间形成一层空气膜，用单色光从上向下照射，入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波，形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的，得到的干涉图样必是等间距的。如果某处凹下去，则对应亮纹(或暗纹)提前出现，如图乙所示；如果某处凸起来，则对应条纹延后出现，如图丙所示。(注：“提前”与

“延后”不是指在时间上，而是指由左向右的位置顺序上)

2．旋转法

这是一种方便快捷地判定被检查平面上是凸起还是凹陷的经验性方法，而不是能从定理或定律推导得出的理论结果。具体方法是将干涉图样及装置一起在纸面内旋转90。。旋转方向是使装置的劈形空气膜劈尖向下，即装置成“V”字形。如在图甲中需逆时针转过90。，此时干涉条纹成水平状态，其上条纹弯曲处的凸起与凹下情况与被检查平面凸、凹情况一致。如在图中，逆时针旋过90。后，乙图中条纹凹陷，丙图中条纹凸起，说明对应于乙图的被检查平面上有凹下的地方，对应于丙图的有凸起处。

原因是：当入射光照到镜头时，如果从薄膜前后两表面反射来的两列光波其路程差恰好等于半波长的奇数倍，两列波便产生相消干涉，振动减弱，于是大大地加强了透射光的强度，达到增透的目的。

增透膜为的就是增加进光量，那样照片的色彩才能够足够的鲜明靓丽，也可以说增透膜就是为了增加成像的质量。

扩展资料

光学薄膜按应用分为反射膜、增透膜、滤光膜、光学保护膜、偏振膜、分光膜和位相膜，常用的是前4种。

光学反射膜用以增加镜面反射率，常用来制造反光、折光和共振腔器件。

光学增透膜沉积在光学元件表面，用以减少表面反射，增加光学系统透射，又称减反射膜。

光学滤光膜用来进行光谱或其他光性分割，其种类多，结构复杂。

光学保护膜沉积在金属或其他软性易侵蚀材料或薄膜表面，用以增加其强度或稳定性，改进光学性质。最常见的是金属镜面的保护膜。

参考资料来源：百度百科--减反射膜

参考资料来源：百度百科--光学薄膜

薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层入射光经薄膜上表面反射后的第一束光,折射光经薄膜下表面反射,又经上表面折射后的第二束光,这两束光在薄膜的同侧,由同一入射振动分出,是相干光,属分振幅干涉若光源为扩展光源(面光源),则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉,故属定域干涉对两表面互相平行的平面薄膜,干涉条纹定域在无穷远,通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察;对楔形薄膜,干涉条纹定域在薄膜附近

实验和理论都证明,只有两列光波具有一定关系时,才能产生干涉条纹,这些关系称为相干条件薄膜的相干条件包括三点∶两束光波的频率相同;束光波的振动方向相同;两束光波的相位差保持恒定

薄膜干涉两相干光的光程差公式为∶△=ntcos(α)±λ/2式中n为薄膜的折射率t为入射点的薄膜厚度;α为薄膜内的折射角;λ/2是由于两束相干光在性质不同的两个界面(一个是光疏介质到光密介质,另一个是光密介质到光疏介质)上反射而引起的附加光程差薄膜干涉原理广泛应用于光学表面的检验、微小的角度或线度的精密测量、减反射膜和干涉滤光片的制备等

光是由光源中原子或分子的运动状态发生变化辐射出来的,每个原子或分子每一次发出的光波,只有短短的一列,持续时间约为10亿秒对于两个独立的光源来说,产生干涉的三个条件,特别是相位相同或相位差恒定不变这个条件,很不容易满足,所以两个独立的一般光源是不能构成相干光源的不仅如此,即使是同一个光源上不同部分发出的光,由于它们是不同的原子或分子所发出的,一般也不会干涉

以上就是关于高中 物理 几何光学 使用薄膜干涉检测物体平面是否光滑 的干涉条纹提前或延后的原理 最好使用图解加文字全部的内容，包括:高中 物理 几何光学 使用薄膜干涉检测物体平面是否光滑 的干涉条纹提前或延后的原理 最好使用图解加文字、照相机的镜头上涂一层增透膜，原理是薄膜干涉，为什么有增透作用、光学：光学镀膜基本原理是什么等相关内容解答，如果想了解更多相关内容，可以关注我们，你们的支持是我们更新的动力！