扫描电镜可以测什么

系统:DSF-60
软件版本:

扫描电子显微镜(SEM)用于测量样品表面材料的材料特性，以便进行显微成像。

扫描电子显微镜是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察方法。它利用窄聚焦高能电子束扫描样品，通过电子束与物质的相互作用激发各种物理信息，并对这些信息进行采集、放大和重新成像，达到表征物质微观形貌的目的。

新型扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可达30万倍以上，并可连续调节；并且具有景深大、视场大、成像立体效果好的优点。

此外，结合扫描电镜和其他分析仪器可以观察微观形貌，分析微区成分。扫描电子显微镜广泛应用于岩土、石墨、陶瓷和纳米材料的研究。因此，扫描电子显微镜在科学研究领域发挥着重要作用。