xrd 图谱应从以下几点来分析：
1、衍射图谱分析：通过材料分析。
首先在进行 xrd 图谱分析时，可通过材料进行 xrd，然后分析它的一个衍射图谱，从而获取到里面的一个成分问题，材料内部的院子和分子结构以及形态也是可以通过 xrd 图谱的衍射图谱来分析出来的。
2、电子密度分析：密度强弱和角度分析。
电子密度分析需要测量衍射光束的强度和角度，通过可以产生经体内的电子密度的三维图像以及电子的密度，就可以确定出晶体中原子的平均位置，这样就能够找到其化学键以及其他的有用信息了。
3、高峰分析：高峰 AB 峰分析。
针对于高峰分析，需要 xrd 图谱的内容，A 峰比 B 峰高很多的时候，可以通过两峰之间的高度比 A/C 来确定一个相对标准粉末的衍生图对应的峰，这样能够通过分析得到一个程序控制下温度物质质量以及温度关系之间的一个曲线。
4、面积分析：面积大小含量多少分析。
通过 xrd 图谱的面积，能够看到相关的晶体含量。面积越大，晶体含量就越多。在 xrd 图谱中，相对背地强度越高，晶体含量就越高，这与面积表示晶体含量是同一种分析方法。
可以通过对材料进行XRD，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。
1、定性分析（XRD的最主要功能），通过八强峰匹配标准pdf卡片，得知样品是由哪些物质构成的。
2、通过版看峰宽等来分析结晶度，峰越尖锐，结晶度越好。
3、看信噪比，信噪比越高，说明这张XRD图拍得越好，越精确。
XRD的英文全称是diffraction of x-rays，中文名称是X射线衍射，是物质分析和材料原子内部的或者分子的结构形态等等的信息的图片，在材料检测和细胞生物学技术上使用较为广泛。
XRD射线是一种电磁波，它的波长在20~0.06埃的，因为电磁波的关系，能在一定条件下穿透一定的物品厚度，是被照射的对象产生发生反光或是气体发生电离。
在电子束轰击下，金属中的电子中的X射线，会产生各种元素对应具有特定波长的X射线，通过特定的X射线可以分析出物质成分，一般称为特征标识的X射线。
你好1、在衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的“尖峰”。
2、如果这些“峰”明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm，可以称之为"微晶"。
3、Scherrer (1918)揭示了衍射峰的增宽是对应晶面方向上的原子厚度(层数)不足以在偏离Bragg条件下相干减弱(destructivelyinterference)衍射峰。 当衍射峰宽度增加到接近其高度时(或高度下降到接近其宽度时), 可认为样品是非晶。
4、同一物质的话，峰窄说明晶粒比较大，和结晶度无关。同一台仪器测试且测试条件相同的情况下，峰高的比较多才能说明结晶情况较好。
扩展资料
1、晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质，都能产生X射线衍射。
2、晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换，包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
3、晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
4、因此，通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的定量分析。
