UT是温度电压当量，常温下UT=26mv(T=300K)。
在PN结外加正向电压V，在这个外加电场的作用下，PN结的平衡状态被打破，P区中的空穴和N区的电子都要PN结移动，空穴和PN结P区的负离子中和，电子和PN结N区的正离子中和，这样就使PN结变窄。随着外加电场的增加，扩散运动进一步增强，漂移运动减弱。
当外加电压超过门槛电压，PN结相当于一个阻值很小的电阻，也就是PN结导通。
扩展资料
二极管特性
1、正向性
外加正向电压时，在正向特性的起始部分，正向电压很小，不足以克服PN结内电场的阻挡作用，正向电流几乎为零，这一段称为死区。这个不能使二极管导通的正向电压称为死区电压。
当正向电压大于死区电压以后，PN结内电场被克服，二极管正向导通，电流随电压增大而迅速上升。在正常使用的电流范围内，导通时二极管的端电压几乎维持不变，这个电压称为二极管的正向电压。
2、反向性
外加反向电压不超过一定范围时，通过二极管的电流是少数载流子漂移运动所形成反向电流。由于反向电流很小，二极管处于截止状态。这个反向电流又称为反向饱和电流或漏电流，二极管的反向饱和电流受温度影响很大。
3、击穿
外加反向电压超过某一数值时，反向电流会突然增大，这种现象称为电击穿。引起电击穿的临界电压称为二极管反向击穿电压。电击穿时二极管失去单向导电性。
如果二极管没有因电击穿而引起过热，则单向导电性不一定会被永久破坏，在撤除外加电压后，其性能仍可恢复，否则二极管就损坏了。因而使用时应避免二极管外加的反向电压过高。
UT（Unit Test）即软件测试分类中的单元测试，它是对程序中的最小可测单元进行测试，一般理解的单元测试就是针对代码的测试，通常采用一些白盒测试方法来覆盖相关源代码，比如针对一个C语言中的函数、Java中的一个类，此种测试要求测试人员具备很强的编码能力，目前大多数公司采用的是开发自测；
IT （System Integration Test）即软件测试分类中的集成测试，它是在单元测试的基础上，将软件的各单元（功能模块）按照概要设计说明书针对模块、子系统、系统的组装测试，以此来检验系统的各部分是否能满足相应的技术指标和要求，集成测试需要重点关注各个模块之间的接口；
ST（System Test）即软件测试分类中的系统测试，它是将软件作为一个整体来进行测试，主要关注计算机硬件、外部设备、第三方软件、数据和人员等系统元素及环境因素等等。
UAT（User Acceptance Test）即软件测试分类中的验收测试，主要是由客户主导按照签订的合同、技术协议以及需求说明规格书来检验软件实施方实现的软件是否满足客户业务方的需求。
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1 即UTalk，详见词条：UTalk。（由于更多的人听到的是UT而不是UTalk所以增加此词条，方便大家查询。）
2 单元测试，Unit Test的缩写
3 UT斯达康公司的简称。
4 UT，虚幻竞技场，Unreal Tournament，经典的FPS游戏简称
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