光缆测试损耗范围

光缆测试损耗范围,第1张

光纤在不同波长的损耗是不同的。普通单模光纤在1310nm处损耗小于0.36db/km,在1550nm处损耗小于0.22db/km。

使用的标准不同,光纤损耗的标准也不同。现行标准是:

单模1310nm 0.34db/km;

单模1550nm 0.20db/km;

多模1300nm<08db/km;

多模850nm<30db/km。

扩展资料:

光纤损耗测试仪通常用于特定工程中的电缆测试,如连接测试、收发功率测试等。

1、连接测试。连通性测试是最简单的测试方法。它只需要在光纤的一端输入光(如红色激光笔),可以达到5000公里左右的距离。通过发出可见光,技术人员可以检查光纤另一端是否有红光(注意保护眼睛,不要直视光源)。闪光表示连接,光缆的断开和故障可以在不见光的情况下确定。弯曲。

2、发射和接收功率测试。收发功率测试是确定布线系统光纤链路的有效方法。使用的主要设备是光纤功率测试仪和跨接布线。在实际应用中,链路的两端可能相距很远,但只要测量发射机和接收机的光功率,就可以确定光纤链路的状况。

3、具体操作过程如下:在发射端,取下测试光纤,用跳接代替。跳接的一端是原发射机,另一端是光功率测试仪。通过使光发射机工作,可以在光功率测试仪上测量发射机的光功率值。

参考资料来源:

百度百科-光纤损耗

不可以。

光纤的接续损耗主要包括光纤本征因素造成的固有损耗和非本征因素造成的熔接损耗及活动接头损耗三种。

1、光纤固有损耗。

光纤固有损耗的产生主要源于光纤模场直径不一致、光纤芯径失配、纤芯截面不圆和纤芯与包层同心度不佳四方面。其中影响最大的是模场直径不一致。

2、熔接损耗。

非本征因素的熔接损耗主要由轴向错位、轴心(折角)倾斜、端面分离(间隙)、光纤端面不完整、折射率差、光纤端面不清洁以及接续人员操作水平、操作步骤、熔接机电极清洁程度、熔接参数设置、工作环境清洁程度等其他因素造成。

3、活动接头损耗。

非本征因素的活动接头损耗主要由活动连接器质量差、接触不良、不清洁以及与熔接损耗相同的一些因素(如轴向错位、端面间隙、折角、折射率差等)造成。

简介

在多模光纤中,芯的直径是50μm和625μm两种, 大致与人的头发的粗细相当。而单模光纤芯的直径为8μm~10μm,常用的是9/125μm。芯外面包围着一层折射率比芯低的玻璃封套, 俗称包层,包层使得光线保持在芯内。

再外面的是一层薄的塑料外套,即涂覆层,用来保护包层。光纤通常被扎成束,外面有外壳保护。 纤芯通常是由石英玻璃制成的横截面积很小的双层同心圆柱体,它质地脆,易断裂,因此需要外加一保护层。

直接看这个没用,首先你得确定发光功率是多少,还要确定光源到光功率之间的距离是多少,测试尾纤及光功率的端口是否良好,光缆每公里损耗05db以下算正常,确定了上面的几点后自己算吧,比如50公里线路,设备的发光功率为+13db,50乘05,等于25,13减25=-12,这50公里的线路,只要不低于负12,就是正常的

光波在光纤中传输时,随着传输距离的增加光功率逐渐减小的现象称为光纤的损耗。

光纤的损耗关系到光纤通信系统传输距离的长短,光纤损耗越小,光纤的通信距离就越长;光纤损耗越大,光纤通信距离就越短。光纤的损耗与波长的关系曲线即损耗波谱曲线,还关系到工作波长的选择。

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